685-069171-100|高精度光谱仪/可以测量几埃以内的薄膜厚度
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产品详细说明
685-069171-100|高精度光谱仪/可以测量几埃以内的薄膜厚度
LAM 685-069171-100 是一款多功能仪器，可用于多种应用，包括：测量薄膜的厚度和成分
分析散装物料的化学成分
识别材料中的污染物
监控半导体晶片的质量
研究新材料的特性
以下是 LAM 685-069171-100 的一些规格：
分辨率：0.005 cm-1
波数范围：4000 至 400 cm-1
样品室：真空或吹扫
软件： SpectraSuite
