NI PXIe-1078：创新的PXI机箱为测试和测量带来新动力
2024年10月12日NI PXIe-1065：革新测试和测量的高性能PXI机箱
2024年10月12日
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美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）自豪地宣布推出其最新的PXIe-1075 PXI机箱，这是一款专为满足严苛测试和测量应用需求而设计的高性能机箱。PXIe-1075以其卓越的性能和可靠性，为工程师提供了一个强大的平台，以实现高精度和高通道数的测试需求。
主要技术特性：
- 高带宽背板：PXIe-1075提供了高达4 GB/s的系统带宽，确保了数据的快速传输和处理。
- 混合插槽设计：机箱配备了8个混合插槽和8个PXI Express插槽，以及1个PXI Express系统定时插槽，提供了极高的灵活性和兼容性。
- 强大的电源供应：机箱的总功率达到791W，为各种高性能模块提供了充足的电力。
- 广泛的温度适应性：PXIe-1075的操作温度范围可扩展至55°C，满足了冷却性能的需求。
- 先进的定时和同步功能：机箱集成了最新PXI规范的所有特性，包括面向PXI和PXI Express模块的支持、用于PXI模块的内置10MHz参考时钟、PXI触发总线和PXI星形触发，以及用于PXI Express模块的内置100MHz参考时钟、SYNC100和PXI星形差分触发。
应用领域： PXIe-1075机箱适用于多种应用场景，包括但不限于：
- 电子设备生产测试系统：为生产线提供稳定的测试平台。
- 自动化验证测试：在研发阶段，用于验证新设备的功能性和性能。
- 高通道数高速测试应用：适用于需要精确、高通道数、混合测量解决方案的高级测试应用。
市场动态： 随着测试和测量技术的发展，市场对高性能PXI机箱的需求日益增长。NI PXIe-1075机箱的推出，不仅满足了市场对高性能测试设备的需求，也展示了NI在测试和测量领域的技术领导地位。通过不断的技术创新，NI致力于为工程师提供更为高效、灵活的测试解决方案。
结论： NI PXIe-1075机箱的推出，为测试和测量领域带来了新的选择。其高兼容性、高带宽和灵活的设计，使其成为工程师和科学家进行精确测量的理想平台。随着技术的不断进步，NI将继续推动测试和测量技术的发展，为用户带来更多创新的测试解决方案。
PXIe-1075